1. Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits-Testing for Small
پدیدآورنده : / Goel, Sandeep K.
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : ELECTRONIC&ENGINEERING, ELECTRICAL
رده :
E-BOOK
![](/design/images/bookmore.png)
2. Management of finance in public enterprises
پدیدآورنده : / Sandeep Goel
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع : مالیه عمومی,مدیریت هدفمند,شرکتها -- امور مالی
رده :
HJ
۱۳۱
/
گ
۹
م
۸ ۱۳۸۰
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)